Débloquez une précision inégalée dansMétrologie des plaquettes de semi-conducteurs
Vous recherchez des mesures précises et fiables pour vos wafers de semi-conducteurs ? Chez DONGGUAN CITY HANDING OPTICAL INSTRUMENT CO., LTD., leader de l'innovation en solutions de mesure optique, nous comprenons l'importance cruciale de la précision dans la fabrication de semi-conducteurs. Ce guide décrit les étapes fondamentales et les points essentiels à prendre en compte pour utiliser des instruments de mesure par vision afin d'obtenir une précision optimale dans l'analyse dimensionnelle de vos wafers.
I. Les étapes fondamentales de la mesure des plaquettes de semi-conducteurs avec des instruments de mesure par vision
1. La préparation est la clé :
Commencez par positionner solidement votre plaquette de semi-conducteur sur leinstrument de mesure de la visionPlateforme de . Une installation stable et sans vibrations est primordiale pour des résultats précis. Utilisez les mécanismes de réglage de l'instrument pour optimiser la plateforme et l'éclairage afin d'obtenir une image parfaitement nette. Cette étape initiale est cruciale, car une image nette minimise le risque d'interprétation erronée des points de mesure. Nos instruments de précision, fièrement fabriqués par DONGGUAN CITY HANDING OPTICAL INSTRUMENT CO., LTD., sont conçus pour une qualité d'image supérieure.
2. Capture de l'image :
Utilisez la fonction caméra haute résolution de l'instrument pour capturer une image nette et statique de la plaquette de semi-conducteur. Cette image numérique fournit une base stable pour toutes les procédures de mesure dimensionnelle ultérieures.
3. Analyse dimensionnelle précise :
Une fois calibré, lesystème de mesure de la visionFournit une variété d'outils de mesure, notamment des segments de droite, des diamètres et des angles. Sélectionnez l'outil approprié en fonction du type de mesure requis. Par exemple, pour mesurer le diamètre d'une structure circulaire, utilisez la fonction Cercle du logiciel ; sélectionnez quelques points sur le bord du cercle et le logiciel calculera automatiquement le diamètre et d'autres données critiques. Faites confiance à la précision et à l'exactitude des produits de DONGGUAN CITY HANDING OPTICAL INSTRUMENT CO., LTD.
II. Considérations critiques pour une mesure précise
1. Pré-nettoyage des plaquettes :
Avant la mesure, assurez-vous que la surface du wafer semi-conducteur est exempte de tout contaminant, comme la saleté et la poussière. Ces particules peuvent interférer avec l'imagerie, provoquant des images floues ou un mauvais alignement des points de mesure, ce qui réduit la qualité de la mesure.précision.
2. Étalonnage méticuleux :
Un étalonnage précis est crucial et doit être effectué avec soin. Toute erreur d'étalonnage est directement répercutée sur les résultats de mesure. Suivez scrupuleusement les instructions et les procédures d'utilisation du logiciel pendant la phase d'étalonnage afin de minimiser les erreurs humaines.
3. Comprendre les facteurs de précision :
Plusieurs facteurs, dont la densité de pixels, la technologie d'imagerie et la qualité de l'étalonnage, influencent la précision d'un système de mesure de vision. Avant de commencer les mesures, familiarisez-vous avec les spécifications et les paramètres de performance de votre système.instrument de mesure de la visionPar exemple, un système avec une densité de pixels plus faible peut avoir du mal à mesurer avec précision les caractéristiques microscopiques. Les produits de DONGGUAN CITY HANDING OPTICAL INSTRUMENT CO., LTD. sont conçus en tenant compte de ces facteurs, offrant une haute précision et des performances fiables.
4. Respect strict des procédures :
Suivez toujours les instructions du logiciel lors de l'étalonnage et des mesures. Évitez les opérations expérimentales dont vous n'êtes pas sûr, car elles pourraient entraîner des mesures inexactes et endommager l'équipement.
Découvrez la différence de précision
Chez DONGGUAN CITY HANDING OPTICAL INSTRUMENT CO., LTD., nous nous engageons à fournir des solutions de mesure de vision de pointe répondant aux exigences élevées de l'industrie des semi-conducteurs. Nos instruments sont conçus pour allier précision, fiabilité et simplicité d'utilisation.
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Date de publication : 12 décembre 2024